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太阳能硅片外观检测涉及的缺陷有裂片、崩边、缺角、脏污等数十种，检测需求多，客户对机器视觉检测要求高，重复定位精度需≤0.1mm，检测幅宽也需要根据具体产品进行定制，需寻求更有效的方法，机器代人的同时，满足不同硅片尺寸的检测需求。
重复定位精度≤0.1mm
检测速度提升：3pcs/s
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