自聚焦视觉融合缺陷检测系统

维视智造自聚焦视觉融合缺陷检测系统DDS-DOF系列, 面向有“自动聚焦”和“有高差”产品表面缺陷检测场景而研发,可自动将非“焦点”处产品图像清晰化,将不同焦点处的图像进行融合,将有较大高差的产品两个面清晰呈现

适用产品检测位置高度差大的场景

检测位置-文字区域

产品检测位置一,涉及汉字内容区域

仅做文字区域检测则数字区域无法清晰成像

检测位置-数字区域

产品检测位置二,涉及数字内容区域

仅做数字区域检测则文字区域无法清晰成像

景深融合效果

采用景深融合技术效果展示

景深融合后,一张图清晰显示具有高度差的两区域成像


芯片PIN缺陷检测

芯片的PIN角及外观缺陷检测精度要求非常高,芯片结构立体,需要检测的缺陷极小。一般的镜头景深无法实现将不同高度的检测区域同时清晰显示,业内的做法都是通过增加大量的检测工位分区域检测。基于维视智造的自聚焦视觉融合缺陷检测系统,可以在1个工位上解决不同高度上的缺陷检测

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