生产痛点
在半导体行业液晶屏破损检测过程中，面临着诸多棘手的生产难点。首先，待检测的液晶屏尺寸较大，常规的正面光源打光方式难以实施，且由于空间安装要求严苛，当前只能依靠两套相机协同作业，即便如此，单套相机仍无法覆盖产品的整个视野，难以获取全面的检测数据。此外，现场复杂的环境干扰较多，各类光源反射在液晶屏表面，产生反光现象，严重干扰相机成像，致使图像出现光斑和虚影，导致检测精度下降，给准确识别液晶屏的破损情况带来极大挑战 。
解决思路
双相机协同与算法优化
双相机检测方案：将被测产品划分为两个区域，各由一套相机负责，有效解决了单相机视野不足的问题，确保产品全面检测。
专用掩膜工具：对干扰区域进行精准屏蔽。该工具通过算法构建与产品适配的掩膜模型，过滤外部干扰，不仅满足检测要求，还极大降低了环境干扰对检测结果的影响
专用掩膜工具：对干扰区域进行精准屏蔽。该工具通过算法构建与产品适配的掩膜模型，过滤外部干扰，不仅满足检测要求，还极大降低了环境干扰对检测结果的影响
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