检测需求
生产需求：在IC引脚框架的生产过程中，蚀刻是一道关键工序。蚀刻缺陷可能导致引脚的间距、宽度等参数不符合设计要求，进而影响芯片的封装质量和电气性能，甚至导致整个集成电路无法正常工作。快捷、稳定的视觉检测可以有效避免有缺陷的产品进入后续工序。
检测难点：IC 引脚框架尺寸越来越小，蚀刻线条的宽度也越来越窄，加上表面反光、污渍等影响，视觉检测精度要求越来越高；同时，大批量的产品也要求视觉系统检测速度及稳定性不断提升。
检测案例
IC引脚框架蚀刻质量检测视觉系统
检测项目：
IC引脚框架不完全蚀刻、蚀刻过度
IC引脚框架不完全蚀刻、蚀刻过度
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